光焱科技 電致發(fā)光效率測試系統(tǒng)LQ-50X-EL介紹

目前 LED 發(fā)展所面臨的挑戰(zhàn)包含：

(1) 新型態(tài)的 LED 具備低亮度 (< 50000 cd/m²)、衰減快的特性

(2) 發(fā)光半寬（FWHM）較傳統(tǒng) LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)

(3) 非朗伯體 (Non-Lambertian) 分布，使得輝度 (cd/m²) 換算 EQE 時(shí)誤差很大

(4) 發(fā)光波長超過視函數(shù)波段 (可見光范圍)，無法以光通量與輝度評價(jià)

其中「衰減快」與「紅外發(fā)光的準(zhǔn)確評價(jià)」，是與轉(zhuǎn)換效率高低最息息相關(guān)，因此光焱科技推出 LQ-50X-EL，采用單光子偵測技術(shù)、NIR 增強(qiáng)光學(xué)設(shè)計(jì)與組件并擁有簡便的設(shè)計(jì)可與手套箱直接整合。

特色

光焱科技 電致發(fā)光效率測試系統(tǒng)LQ-50X-EL的特色如下：

*采用單光子偵測技術(shù)，克服傳統(tǒng)光譜儀在低亮度需要長曝光時(shí)間 (1~3秒) 的特征，加快測試速度，以確保測試的準(zhǔn)確性與高效率。

*采用 NIR 增強(qiáng)光學(xué)設(shè)計(jì)與組件，使其涵蓋波長可達(dá)到 1100 nm，更可擴(kuò)展到 1700 nm。

*設(shè)計(jì)簡便，并且可與手套箱直接整合，同時(shí)對于各種樣品形式都可以做很好的適配。

LQ-50X-EL 可快速測試每個(gè)電壓下的發(fā)光光譜，并可取得輻照度、輝度、CIE坐標(biāo)等多項(xiàng)參數(shù)值，實(shí)測無機(jī) LED 測試量測不重復(fù)性小于 0.2 %。

LQ-50X-EL 為 NIST 溯源，與國外校正的白光與綠光 LED 比對，差異值小于 0.5 %。

規(guī)格

標(biāo)準(zhǔn)配置：

*全向式收光系統(tǒng) (50 mm 積分球)

*增強(qiáng)型多信道光譜儀測試系統(tǒng)

*探針系統(tǒng)

*量測軟件

*工控機(jī)與屏幕

選配規(guī)格：

*紅外光譜擴(kuò)充模塊 (900 – 1700 nm)

*手套箱整合套件

應(yīng)用范圍

光焱科技 電致發(fā)光效率測試系統(tǒng)LQ-50X-EL可用于：

*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode

*Organic IR LED

*QD LED / QD Laser Diode

*VESEL Laser Diode

實(shí)證

量測結(jié)果總覽